Optyczna tomografia dyfrakcyjna spotyka się z metrologią — Dokładność pomiaru na poziomie komórkowym i subkomórkowym
Autorzy: Michał Ziemczonok, Arkadiusz Kuś, Małgorzata Kujawińska
Trójwymiarowe ilościowe obrazowanie fazy pozwala uzyskać objętościową informację na temat rozkładu współczynnika załamania w różnego typu mikroobiektach (technicznych oraz biologicznych). Tego rodzaju pomiar cieszy się obecnie dużym zainteresowaniem ze strony zarówno przemysłu, jak i biomedycyny. Niestety mimo coraz bardziej powszechnego stosowania tej grupy technik brakuje pełnej metrologii tak, aby wyznaczenie rozkładu współczynnika załamania stało się pełnoprawnym pomiarem. Co więcej przeprowadzenie pełnej analizy metrologicznej jest niezbędne do dalszego rozwoju wspomnianych metod.
W artykule zaproponowana została metodyka oceny niepewności pomiaru dla metod trójwymiarowego ilościowego obrazowania fazy w
przypadku pojedynczych komórek oraz struktur komórkowych. W pracy zawarty został odpowiedni fantom komórki wraz z jego cyfrowym bliźniakiem, parametry oceny pomiaru oraz protokół postępowania odpowiedni zarówno dla symulacji, jak i pomiarów. Skuteczność opracowanej metodyki została zademonstrowana poprzez porównanie symulacji oraz pomiarów dla trzech różnych systemów pomiarowych – tomografów holograficznych. Wyniki badań stanowią punkt wyjścia dla dalszych badań nad metodami pomiaru i rekonstrukcji współczynnika załamania, jak również są pewnego rodzaju bodźcem do przeprowadzenia podobnej weryfikacji nowych układów pomiarowych w innych grupach badawczych.
