| Nazwa zamówienia: | Pomiary i analiza metrologiczna wzorców 2D i 3D wykonanych metodą mikrodruku 3D na systemie Nanoscribe |
|---|---|
| Sygnatura sprawy: | IMiF/113/2025 |
| Typ zamówienia: | Umowa cywilno prawna |
| Jednostka: | IMiIF |
| Data publikacji: | 29.04.2025 |
| Termin składania ofert | 09.05.2025 |
© 2016-2025
Politechnika Warszawska, Wydział Mechatroniki
ul. św. Andrzeja Boboli 8,
02-525 Warszawa
NIP: 525-000-58-34
REGON: 000001554
Dziekanat: 22 234 84 56
Rekrutacja: 22 234 85 79
e-mail: dziekanat.mchtr@pw.edu.pl
Sekretariat Dziekana:
22 234 85 89
e-mail: dziekan.mchtr@pw.edu.pl
